Сканирующий электронный микроскоп Supra 40 с приставкой INCAx-act для энергодисперсионного микроанализа

Виды анализа методом сканирующей электронной микроскопии:

  • Получение изображений методом СЭМ образцов наноразмерных объектов (проводящих и непроводящих):
    • наночастиц (нанопорошков),
    • наностержней, нановолокон,
    • нанотрубок,
    • нанопроволок,
    • нанодисков
    с пространственным разрешением до 2 нм.
  • Анализ изображений с получением численных данных о размерах и форме нанообъектов, степени их агломерируемости.
  • Получение изображений методом СЭМ структуры объема и поверхности образцов наноструктурных материалов (проводящих и непроводящих), в том числе нанокомпозитов с пространственным разрешением до 2 нм.
  • Анализ изображений с получением численных данных о размерах и форме нанокристаллитов (гранул), пор, межкристаллитных границ и других особенностей структуры.

Supra 40

Сведения о сертификации:

 

 

 

скачать1 pdf

скачать2-3 pdf