Сканирующий электронный микроскоп Supra 40 с приставкой INCAx-act для энергодисперсионного микроанализа
Виды анализа методом сканирующей электронной микроскопии:
- Получение изображений методом СЭМ образцов наноразмерных объектов (проводящих и непроводящих):
- наночастиц (нанопорошков),
- наностержней, нановолокон,
- нанотрубок,
- нанопроволок,
- нанодисков
- Анализ изображений с получением численных данных о размерах и форме нанообъектов, степени их агломерируемости.
- Получение изображений методом СЭМ структуры объема и поверхности образцов наноструктурных материалов (проводящих и непроводящих), в том числе нанокомпозитов с пространственным разрешением до 2 нм.
- Анализ изображений с получением численных данных о размерах и форме нанокристаллитов (гранул), пор, межкристаллитных границ и других особенностей структуры.
Сведения о сертификации:
