Класс сканирующих зондовых микроскопов и профилометров
Виды анализа методом сканирующей зондовой микроскопии:
- Получение изображений в контактном, полуконтактном и бесконтактном режимах атомно-силовой микроскопией.
- Получение изображений в режиме фазового контраста.
- Получение изображений в режиме туннельного микроскопа.
Класс мультимикроскопов АСМ/ТСМ СММ-2000
Класс профилометров модели 130
Сведения о сертификации
